Hallo an alle!
Die Firma BNE hat einen neuen Mikroprozessor mit 100 Kernen entwickelt. BNE möchte in einer Testreihe ermitteln, wie viele der Prozessorkerne für längere Zeit (20 Minuten) gleichzeitig unter Volllast genutzt werden können, ohne dass der Prozessor zerstört wird.
Sie erhalten für die Ermittlung dieser Grenze 20 Prototypen der neuen Prozessoren. Da die Fertigungstoleranzen sehr gering sind, können Sie davon ausgehen, dass sich alle Chips gleich verhalten.
Jeder der Prototyp-Prozessoren ist sehr teuer in der Prdouktion. Daher ist der Schaden groß, wenn Ihnen einer der Prozessoren kaputt geht. Wenn ein Prozessor getestet wurde und nicht kaputt gegangen ist, muss er erst wieder gekühlt werden, um gleiche Testbedingungen für alle Prozessoren herzustellen. Daher soll jeder Prozessor maximal ein Mal pro Tag zum Testen verwendet werden.
Dem Management von BNE ist auch wichtig, dass die Prozessoren alle nacheinander zum Einsatz kommen, damit bei fehlerhaftem Versuchsaufbau nicht plötzlich mehrere Prototypen gleichzeitig kaputt gehen.
Ihre Aufgabe: Stellen Sie einen Testplan auf, um innerhalb eines Tages die gesuchte Grenze möglichst kostengünstig zu ermittlen. Können Sie dem Management von BNE garantieren, dass nicht mehr als eine gewisse Anzahl N der Prototyp-Prozessoren zerstört wird?
Kann mir hierbei jemand helfen?
